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包含高灵敏度测量模式的色谱测距传感器

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本发明公开了一种包含高灵敏度测量模式的色谱测距传感器。操作色谱测距传感器(CRS)系统的方法可包括色点传感器(CPS)系统，该色点传感器系统包括光学笔，以测量低反射率表面。CRS系统可包含高灵敏度测量模式，在该模式中使用非常规的低采样率或“长”自饱和曝光时间，以测量低反射率表面。“长”自饱和曝光时间可引起一个或多个探测器像素自饱和达到至少饱和阈值水平，其防止它们指示有效波长峰值。这样的像素可限定出标定总测量范围的无效峰值部分。当表面位于CRS系统确定的标定总测量范围的有效子集中，这样排除了无效峰值部分时，CRS仍可检测有效波长峰值或进行高度测量。

著录项

公开/公告号CN105937877B

专利类型发明专利
公开/公告日2018-07-17

原文格式PDF
申请/专利权人株式会社三丰;
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申请/专利号CN201610298366.0
发明设计人 A·M·帕茨沃尔德;
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申请日2016-03-04
分类号
代理机构北京市柳沈律师事务所;
代理人曲莹
地址日本神奈川县
入库时间 2022-08-23 10:14:06

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-07-17

授权

授权
2016-10-19

实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20160304

实质审查的生效
2016-09-14

公开

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