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一种提升经时击穿测试有效性的方法

摘要

本发明提供一种提升经时击穿测试有效性的方法,设定芯片漏电流的数值范围,若量测得到的芯片的漏电流位于所述数值范围之内,则对该芯片进行经时击穿的测试;若量测得到的芯片的漏电流位于所述数值范围之外,则不对该芯片进行经时击穿的测试。本发明提供的方法仅需对芯片进行漏电流测试,即可筛除会对TDDB测试产生不良影响的芯片,因此在进行TDDB测试时,不会产生即使测试至最大量测时间,也无法得到测试结果的现象,从而避免耽误经时击穿的测试时间,也避免损坏经时击穿的测试装置。

著录项

  • 公开/公告号CN105742200B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201610107358.3

  • 发明设计人 沈蕾;尹彬锋;邓娇娇;

    申请日2016-02-26

  • 分类号

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人智云

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号

  • 入库时间 2022-08-23 10:14:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-20

    授权

    授权

  • 2016-08-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/66 申请日:20160226

    实质审查的生效

  • 2016-07-06

    公开

    公开

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