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四相机组平面阵列特征点匹配方法及基于其的测量方法

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四相机组平面阵列特征点匹配方法及基于四相机组平面阵列特征点匹配方法的测量方法，属于光学电子测量领域。匹配方法包括以四个像平面中的一个像平面为基像平面，对基像平面上的一个特征点找出在横向方向上与该基像平面相邻的像平面上与该特征点匹配的所有匹配点；对于基像平面上的特征点找出在纵向方向上与该基像平面相邻的像平面上与该特征点匹配的所有匹配点；将找出的横纵两个方向上所有匹配点进行再匹配，找出所有子匹配点组；找出对角位置像平面上与基像平面上的特征点以及找出的所有子匹配点组对应的匹配点；确定四个像平面中对应于同一被视点的唯一性匹配点组。对于每组唯一性匹配点组，可根据该匹配点组的像坐标和相机系统本身的参数，计算被视点的三维空间坐标。在任何光照条件下只要采集的图像足够清晰对于任何在四相机组平面阵列的图像上成像且有一定的图像特征的被视物，采用完全相同的匹配方法和测量方法均可以实现被视物的三维测量。

著录项

公开/公告号CN107850419B

专利类型发明专利
公开/公告日2018-09-04

原文格式PDF
申请/专利权人北京清影机器视觉技术有限公司;
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申请/专利号CN201680000645.2
发明设计人曹亮;尹兴;
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申请日2016-07-04
分类号
代理机构北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人李丙林
地址 100089 北京市海淀区高粱桥路上园村3号(家属楼东1、2楼旁)海淀交大福利招待所209室
入库时间 2022-08-23 10:16:49

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-09-04

授权

授权
2018-04-20

实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 申请日:20160704

实质审查的生效
2018-04-20

实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20160704

实质审查的生效
2018-03-27

公开

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2018-03-27

公开

公开
2018-03-27

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1. 四相机组平面阵列特征点匹配方法及基于其的测量方法 [P] . 中国专利： CN107850419B . 2018.09.04
2. 四像机组平面阵列特征点三维测量系统及测量方法 [P] . 中国专利： CN105627926B . 2017.02.08
3. Matching method of feature points of planar array of 4 camera groups and measurement method based thereon [P] . 日本专利： JP6453908B2 . 2019-01-16

机译： 4个摄像机组平面阵列的特征点匹配方法及基于该方法的测量方法
4. Feature point matching method of planar array of four-camera group and measuring method based on the same [P] . 美国专利： US10107617B2 . 2018-10-23

机译：四相机组平面阵列的特征点匹配方法及基于该方法的测量方法
5. 4 Matching method of feature points in planar array of four - camera group and measurement method based theron [P] . 韩国专利： KR101926953B1 . 2018-12-07

机译： 4四相机组平面阵列中特征点的匹配方法及基于theron的测量方法