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一种系统级单粒子效应影响表征参数的评价方法

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本发明公开了一种系统级单粒子效应影响表征参数及评价方法：根据系统功能分析，建立以元器件为底事件的系统功能模型，结合元器件单粒子敏感性分析，建立系统单粒子效应影响功能模型；基于单粒子效应试验数据，计算分析敏感元器件的单粒子事件率，采用故障注入、重离子辐照试验法或系统历史数据分析方法确定系统各层次间单粒子效应影响传递因子；基于单粒子事件的叠加性原理，计算系统单粒子事件率；结合单粒子效应影响中断时间，计算系统单粒子效应危害度和可用性。本发明采用定量的方法表征单粒子效应对系统的影响，并评价系统单粒子效应的影响后果，该方法可用于指导系统级单粒子效应风险的量化控制。

著录项

公开/公告号CN105893664B

专利类型发明专利
公开/公告日2019-01-15

原文格式PDF
申请/专利权人北京空间飞行器总体设计部;
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申请/专利号CN201610192270.6
发明设计人林益明;于登云;郑玉展;赵海涛;蔡震波;张庆祥;
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申请日2016-03-30
分类号G06F17/50(20060101);
代理机构11009 中国航天科技专利中心;
代理人庞静
地址 100094 北京市海淀区友谊路104号
入库时间 2022-08-23 10:23:24

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-01-15

授权

授权
2016-09-21

实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20160330

实质审查的生效
2016-09-21

实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20160330

实质审查的生效
2016-08-24

公开

公开
2016-08-24

公开

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