公开/公告号CN106204598B
专利类型发明专利
公开/公告日2019-02-05
原文格式PDF
申请/专利权人 东方晶源微电子科技(北京)有限公司;
申请/专利号CN201610551876.4
申请日2016-07-13
分类号G06T7/00(20170101);G06F16/903(20190101);
代理机构44202 广州三环专利商标代理有限公司;
代理人郝传鑫;熊永强
地址 100176 北京市朝阳区北京经济技术开发区经海四路156号院12号楼
入库时间 2022-08-23 10:25:12
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-02-05
授权
授权
2017-01-04
实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20160713
实质审查的生效
2017-01-04
实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20160713
实质审查的生效
2016-12-07
公开
公开
2016-12-07
公开
公开
机译: 自动缺陷分类过程中的缺陷管理方法和系统
机译: 讲授基于知识的自动缺陷分类系统,尤其是针对半导体晶圆缺陷的系统,从而该系统具有自动倾斜模式,在该模式下,系统可以根据图像输入和分类缺陷
机译: 缺陷自动观察分类系统中的缺陷自动观察分类系统,装置选择方法,程序以及观察装置