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利用低频测姿传感器对航天器高频姿态进行测量的方法

摘要

本发明属于姿轨控技术领域,涉及一种利用低频测姿传感器,实现对于航天器高频姿态进行测量的方法。该方法包括以下步骤:S1利用传统测姿方法获取航天器原始姿态估计值;S2融合N组不同频率的航天器原始姿态估计值;S3从融合的航天器原始姿态估计值中恢复出高频段姿态数据。本发明所述方法仅用常规采样频率的测姿传感器就可实现航天器高频姿态估计,且能达到较高精度;该方法利用了航天器高频姿态量在频域的稀疏性;通过压缩感知技术,可以从低频的姿态测量数据中恢复出航天器高频姿态数据;仿真结果证明该方法能够测量出高频姿态,并且对于误差具有较好的鲁棒性。通过增加测姿传感器,改进重构算法,可进一步改善高频姿态测量的精度。

著录项

  • 公开/公告号CN109115229B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国人民解放军国防科技大学;

    申请/专利号CN201811082747.0

  • 申请日2018-09-17

  • 分类号

  • 代理机构长沙中科启明知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人任合明

  • 地址 410003 湖南省长沙市开福区德雅路109号

  • 入库时间 2022-08-23 10:33:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-31

    授权

    授权

  • 2019-01-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C 21/24 申请日:20180917

    实质审查的生效

  • 2019-01-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C 21/24 申请日:20180917

    实质审查的生效

  • 2019-01-01

    公开

    公开

  • 2019-01-01

    公开

    公开

  • 2019-01-01

    公开

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