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一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法

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本发明公开了一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法，所述X射线微分相位衬度显微镜系统包括：用于产生X射线的光源；以及沿X射线传播方向依次设置的聚光镜、中心光阑、分束光栅、针孔、样品台、物镜、环形分析光栅和成像探测器。本发明的有益效果是：该X射线微分相位衬度显微镜系统，仅在传统的X射线显微镜中增加分束光栅和环形分析光栅，就能实现相位衬度定量成像，具有结构简单、易于推广的优点。另外，可以将X射线光源、聚光镜、分束光栅集成为一个X射线环形栅源元件，则整个X射线微分相位衬度显微镜系统长度可以进一步缩短，不仅可以降低X射线显微镜系统的制造成本，而且光的利用效率也能进一步提高。

著录项

公开/公告号CN107664648B

专利类型发明专利
公开/公告日2019-08-13

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学院高能物理研究所;
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申请/专利号CN201610617865.1
发明设计人朱佩平;张凯;袁清习;黄万霞;朱中柱;
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申请日2016-07-29
分类号G01N23/041(20180101);G01N23/083(20180101);
代理机构11435 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人陈姗姗
地址 100049 北京市石景山区玉泉路19号(乙)
入库时间 2022-08-23 10:37:55

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-08-13

授权

授权
2018-03-06

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/04 申请日:20160729

实质审查的生效
2018-03-06

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/04 申请日:20160729

实质审查的生效
2018-02-06

公开

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2018-02-06

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公开
2018-02-06

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