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一种集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构

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本发明提供了一种集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构，包括调试主控器和调试子控制器；调试主控器通过接收JTAG接口的数据，进行数据校验和指令解析后，将校验无误的数据送往相应的调试子控制器，进一步进行处理和执行，调试子控制器接受调试主控器的控制，并按照相应的数据指令，实现对调试对象的调试操作并返回调试数据；本发明的JTAG调试结构在支持IEEE1149.1标准JTAG时序的基础上，实现了双向32位CRC串行数据校验功能，能够检测数据传输过程中出现的异常，提高了数据传输过程的可靠性。

著录项

公开/公告号CN107290656B

专利类型发明专利
公开/公告日2019-08-27

原文格式PDF
申请/专利权人西安微电子技术研究所;
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申请/专利号CN201710452885.2
发明设计人颜伟;李俊玲;沈拉民;
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申请日2017-06-15
分类号G01R31/3185(20060101);G06F11/10(20060101);G06F11/22(20060101);G06F11/267(20060101);G06F11/273(20060101);
代理机构61200 西安通大专利代理有限责任公司;
代理人强宏超
地址 710065 陕西省西安市雁塔区太白南路198号
入库时间 2022-08-23 10:39:08

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-08-27

授权

授权
2017-11-24

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/3185 申请日:20170615

实质审查的生效
2017-11-24

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/3185 申请日:20170615

实质审查的生效
2017-10-24

公开

公开
2017-10-24

公开

公开
2017-10-24

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1. 一种集成双向CRC校验功能的可扩展JTAG调试结构 [P] . 中国专利： CN107290656B . 2019.08.27
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