首页> 中国专利> 单透镜或多透镜光学系统的光学表面的曲率中心的位置的测量

单透镜或多透镜光学系统的光学表面的曲率中心的位置的测量

摘要

在用于测量单透镜或多透镜光学系统的光学表面的曲率中心的位置的方法中,提供了成像透镜系统,其将至少一个物体平面成像到彼此不同但是位于相同光束路径中的第一和第二图像平面。光学系统这样设置,考虑位于光束路径上游的光学系统的任意光学表面的折射效应,第一曲率中心的假定位置位于成像透镜系统的第一图像平面中并且第二曲率中心的假定位置位于成像透镜系统的第二图像平面中。设置在物体平面中的物体然后通过测量光同时或顺序成像在第一图像平面和第二图像平面处。测量光在光学系统的光学表面处的反射通过空间解析光传感器检测。从所检测的反射计算第一曲率中心和第二曲率中心的实际位置。

著录项

  • 公开/公告号CN105738078B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 全欧光学有限公司;

    申请/专利号CN201511036112.3

  • 申请日2015-12-24

  • 分类号

  • 代理机构北京市中咨律师事务所;

  • 代理人慈戬

  • 地址 德国韦德尔

  • 入库时间 2022-08-23 10:41:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-08

    授权

    授权

  • 2018-01-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20151224

    实质审查的生效

  • 2018-01-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20151224

    实质审查的生效

  • 2016-07-06

    公开

    公开

  • 2016-07-06

    公开

    公开

  • 2016-07-06

    公开

    公开

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