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一种薄层电阻率测井响应校正的新方法

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本发明属于电阻率测井技术领域，具体而言，涉及一种薄层电阻率测井响应校正的新方法，包括下列步骤：A、计算薄层电阻率测井曲线的纵向几何因子；B、根据纵向几何因子和薄层电导率计算薄层电阻率测井曲线总的接收信号；C、建立薄层电阻率测井响应定量校正模型，并推导相应的校正公式；D、选用合适的校正公式对薄层实测电阻率测井曲线进行逐点校正；E、绘制校正后的薄层电阻率测井曲线。该方法通过对薄层几何因子的分析，建立了几何因子校正模型，给出了薄层电阻率校正的新方法，该新方法能够得到薄层更真实的电阻率，提高了薄层的测井解释精度，为薄层的含油饱和度等参数的计算打好了坚实的基础，避免了漏失具有工业开采价值的薄油层。

著录项

公开/公告号CN107463722B

专利类型发明专利
公开/公告日2020-05-05

原文格式PDF
申请/专利权人西南石油大学;
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申请/专利号CN201710312919.8
发明设计人胡书勇;刘真谛;姚恒申;朱伟林;邓熠;柳波;胡欣芮;
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申请日2017-05-05
分类号
代理机构北京中索知识产权代理有限公司;
代理人霍春月
地址 610500 四川省成都市新都区新都大道8号
入库时间 2022-08-23 10:57:26

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-05-05

授权

授权
2018-01-05

实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20170505

实质审查的生效
2018-01-05

实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20170505

实质审查的生效
2017-12-12

公开

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2017-12-12

公开

公开
2017-12-12

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