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确定经过射束调整装置的粒子强度分布的方法和装置

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本发明提供了一种确定经过射束调整装置的粒子强度分布的方法和装置。该方法包括以下步骤：计算粒子经过射束调整装置后的强度分布，包括：获取粒子穿过射束调整装置前的状态，包括粒子在射束坐标系中的权重和/或能量、位置与方向；使用该射束调整装置的各限束部件的交线长度矩阵和粒子在射束坐标系中的状态来计算粒子经过射束调整装置的交线长度，其中所述交线长度矩阵包括不同入射位置的粒子与不同入射方向的粒子与该射束调整装置的对应限束部件的交线长度；使用粒子穿过射束调整装置前的权重和/或能量以及粒子穿过射束调整装置的交线长度来计算粒子经过射束调整装置后的权重和/或能量改变；以及将粒子的位置沿着粒子的方向由射束调整装置前变换到射束调整装置后，得到原粒子强度分布。

著录项

公开/公告号CN106354896B

专利类型发明专利
公开/公告日2020-06-02

原文格式PDF
申请/专利权人上海联影医疗科技有限公司;
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申请/专利号CN201510422995.5
发明设计人刘娟;周婧劼;李贵;唐寅;
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申请日2015-07-17
分类号G06F30/20(20200101);
代理机构
代理人
地址 201807 上海市嘉定区城北路2258号
入库时间 2022-08-23 11:00:00

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-06-02

授权

授权
2017-05-17

实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20150717

实质审查的生效
2017-01-25

公开

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