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基于SHPB的颗粒物质一维应力波衰减效应测定方法

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本发明公开一种基于SHPB的颗粒物质一维应力波衰减效应测定方法，包括如下步骤：(10)应力波加载：将待测颗粒物质试件置于分离式霍普金森压杆，记录射波、反射波、透射波；(20)前端峰值应力计算：计算得到试件前端峰值应力；(30)界面系数获取：拟合得到反射系数由试件所受应力表达的函数式，和透射系数由试件所受应力表达的函数式；(40)尾端峰值应力计算：根据透射波峰值应力和透射系数，计算得到试件尾端峰值应力；(50)消波率获取：根据试件尾端峰值应力和试件前端峰值应力，计算得到待测颗粒物质试件的消波率。本发明的颗粒物质一维应力波衰减效应测定方法，试验结果准确、试件长度可调、试验效率高。

著录项

公开/公告号CN108195725B

专利类型发明专利
公开/公告日2020-06-26

原文格式PDF
申请/专利权人中国人民解放军陆军工程大学;
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申请/专利号CN201711327125.5
发明设计人陈力;于潇;方秦;范益;姜锡权;陈大鹏;
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申请日2017-12-13
分类号
代理机构南京理工大学专利中心;
代理人吴茂杰
地址 210007 江苏省南京市后标营路88号
入库时间 2022-08-23 11:03:09

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-06-26

授权

授权
2018-07-17

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/00 申请日:20171213

实质审查的生效
2018-06-22

公开

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1. 基于SHPB的颗粒物质一维应力波衰减效应测定方法 [P] . 中国专利： CN108195725B . 2020.06.26
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