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基于改进遗传算法的模拟电路多故障诊断方法

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本发明公开了一种基于改进遗传算法的模拟电路多故障诊断方法，首先分析得到模拟电路在不同测点处的传输函数，测量得到模拟电路在不同频率激励信号下这些测点处的输出电压，构成故障输出电压向量，将元件参数值向量作为遗传算法中的个体，在进行个体交叉时，根据个体中故障元件数量分不同情况选择交叉位置，将最后一代种群中最优个体中参数值位于故障范围内的代表性故障元件作为故障诊断结果。本发明利用遗传算法找到与模拟电路故障输出电压向量最接近的输出电压向量，从而得到故障诊断结果，对个体交叉的方法进行改进以提高遗传算法的效率。采用本发明可以能够找到事前没有存储的故障源，提高故障诊断准确率。

著录项

公开/公告号CN109839583B

专利类型发明专利
公开/公告日2020-07-31

原文格式PDF
申请/专利权人电子科技大学;
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申请/专利号CN201910233065.3
发明设计人杨成林;周秀云;刘震;
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申请日2019-03-26
分类号G01R31/316(20060101);
代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);
代理人温利平;陈靓靓
地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
入库时间 2022-08-23 11:07:30

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-07-31

授权

授权
2019-06-28

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/316 申请日:20190326

实质审查的生效
2019-06-04

公开

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