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薄膜型热电材料塞贝克系数及电导率的测试装置

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薄膜型热电材料塞贝克系数及电导率的测试装置，它要解决现有用于测试薄膜型热电材料塞贝克系数和电导率的装置存在较大的测量误差的问题。该测试装置包括计算机、隔离管、试样固定平台、两个热电偶探针、样品安装装置、数据采集装置和控制系统，待测薄膜样品安装于固定平台上，固定平台插入隔离管内，计算机与控制系统、数据采集系统相连，在控制系统控制下开启加热棒在待测样品两侧建立预设温度差或加载预设直流电流，数据采集系统传输取样点处温度值及电压信号，计算机计算并交互显示塞贝克系数及电导率。本发明测试装置适用于薄膜型热电材料的测量，测试过程温度与电压测量点保持一致，结构简单，便于加热，有效降低高温热电性能测试成本。

著录项

公开/公告号CN108459046B

专利类型发明专利
公开/公告日2020-10-09

原文格式PDF
申请/专利权人哈尔滨工业大学;
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申请/专利号CN201810439481.4
发明设计人张广军;吕明达;
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申请日2018-05-09
分类号G01N25/20(20060101);G01R27/02(20060101);
代理机构23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所;
代理人侯静
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
入库时间 2022-08-23 11:16:17

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