首页> 中国专利> 分光瞳差动共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法与装置

分光瞳差动共焦分立荧光光谱及荧光寿命探测方法与装置

摘要

本发明属于化学物质检测技术领域,利用分光瞳设计,有效屏蔽激发光路中光学元件自发荧光对结果的干扰,提高系统的信噪比。此外,将差动共焦物体表面定位技术和分立荧光光谱和荧光寿命测量技术相融合;利用差动共焦技术实现待测样品表面三维形貌的高精度测量,同时利用分立荧光光谱及荧光寿命探测技术实现待测样品表面各点的荧光光谱及荧光寿命的高灵敏度检测,进而得到三维高分辨空间物质成分分布信息。并且在样品表面的荧光信息测量过程中,本发明使用了多种不同的分立荧光探测手段,使用者可以根据待测物质的化学特性,选择使用是荧光光谱检测,还是荧光寿命检测。本发明在生物学、医学、材料科学以及临床医学诊断领域具有广泛的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN108844929B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杨佳苗;

    申请/专利号CN201810452920.5

  • 发明设计人 杨佳苗;李静伟;龚雷;

    申请日2018-05-14

  • 分类号G01N21/64(20060101);G01J3/44(20060101);G01J3/02(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 201702 上海市青浦区徐泾镇联民路877弄13号1201室

  • 入库时间 2022-08-23 11:19:22

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号