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一种基于干涉成像光谱仪的高精度波长定标方法

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本发明公开了一种基于干涉成像光谱仪的高精度波长定标方法，包括以下内容：以某一波长的单色光作为光源，采集干涉条纹图；从干涉条纹图中提取某一行干涉条纹信息构成干涉信号I；对干涉信号I进行扩展获得信号长度为I信号长度M倍的信号I_e；获取信号I_e的频谱强度信息FI_e；提取频谱强度信息FI_e中峰值位置的横坐标K_e，并由K_e和M获取波数位置坐标K；以若干不同波长的单色光分别作为光源，重复前述过程；对所有波长与其对应的波数位置坐标的关系数据进行曲线拟合，由此获得波长定标结果。本发明能够在不增加太多计算复杂度的情况下显著提高波长定标中谱线位置的定位精度。

著录项

公开/公告号CN110017898B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-01-08

原文格式PDF
申请/专利权人南京理工大学;
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申请/专利号CN201910248039.8
发明设计人李建欣;许逸轩;柏财勋;刘杰;
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申请日2019-03-29
分类号G01J3/45(20060101);G01J3/28(20060101);
代理机构32203 南京理工大学专利中心;
代理人马鲁晋
地址 210094 江苏省南京市玄武区孝陵卫200号
入库时间 2022-08-23 11:28:25

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