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基于单色X射线衍射的单晶应力张量测量方法

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本发明公开了一种基于单色X射线衍射的单晶应力张量测量方法，方法包括以下步骤：建立样品坐标系，基于X射线衍射测量衍射峰的位置与布拉格角2θ₁，2θ₂...2θ_n，衍射峰对应的晶面法线方向在所述样品坐标系以单位向量形式表示，基于单晶的实际晶格参数a、b、c、α、β、γ构建坐标转换矩阵M，求解方程组得到实际晶格参数a、b、c、α、β、γ，基于单晶的理论晶格参数为a₀、b₀、c₀、α₀、β₀、γ₀，构建并求解理论坐标转换矩阵M₀构造晶体学直角坐标系转到样品坐标系的旋转矩阵R，计算样品坐标系下的应变张量ε，基于单晶的应变张量ε和弹性模量计算其应力张量σ。

著录项

公开/公告号CN110715946B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-01-15

原文格式PDF
申请/专利权人西安交通大学;
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申请/专利号CN201910884946.1
发明设计人陈凯;寇嘉伟;沈昊;朱文欣;
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申请日2019-09-19
分类号G01N23/20(20180101);G01L1/25(20060101);G01L5/00(20060101);
代理机构11429 北京中济纬天专利代理有限公司;
代理人覃婧婵
地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号
入库时间 2022-08-23 11:29:18

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