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多能谱X射线成像系统和用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法

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摘要

本发明公开了一种用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法，包括：获得所述待测物品在N个能区中的透明度值组成的透明度相关向量，其中N大于2；利用非线性降维算法将所述透明度相关向量和所述系统中存储的多种物品在多种厚度的情况下在所述N个能区中的N个透明度均值组成的透明度相关向量映射到二维平面上，以分别得到所述待测物品的透明度相关向量在所述二维平面上的映射点和所述多种物品的透明度相关向量在所述二维平面上的映射点集合；确定所述映射点集合中与所述映射点最近的点；以及将所述待测物品识别为所述多种物品中与所述最近的点相对应的物品。

著录项

公开/公告号CN108181327B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-02-05

原文格式PDF
申请/专利权人同方威视技术股份有限公司;
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申请/专利号CN201611159161.0
发明设计人徐光明;刘必成;赵自然;顾建平;李强;张岚;
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申请日2016-12-07
分类号G01N23/04(20180101);
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人杨姗
地址 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
入库时间 2022-08-23 11:31:15

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