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用于半导体基化学传感器的红外热成象筛选技术

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摘要

开发了一种用于快速平行筛选候选化学传感器材料组成阵列的红外热成象技术。该技术包括在筛选期间对样品阵列施加偏压和相联系的电流。热成象响应被电阻变化所放大，而电阻变化随着气体吸附而发生并利用与I

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2014-12-10

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 27/72 授权公告日:20081029 终止日期:20131015 申请日:20011015

专利权的终止
2008-10-29

授权

授权
2005-05-11

实质审查的生效

实质审查的生效
2005-03-09

公开

公开

1. 用于半导体基化学传感器的红外热成象筛选技术 [P] . 中国专利： CN100429514C . 2008.10.29
2. 热成象系统和为扫描热成象系统产生参考温度的方法 [P] . 中国专利： CN1149830C . 2004.05.12
3. INFRARED THERMOGRAPHIC SCREENING TECHNIQUE FOR SEMICONDUCTOR-BASED CHEMICAL SENSORS [P] . CA2423784C . 2010-07-20

机译：基于半导体的化学传感器的红外热成像筛选技术
4. INFRARED THERMOGRAPHIC SCREENING TECHNIQUE FOR SEMICONDUCTOR-BASED CHEMICAL SENSORS [P] . 韩国专利： KR100851185B1 . 2008-08-08

机译：基于半导体的化学传感器的红外热成像筛选技术
5. INFRARED THERMOGRAPHIC SCREENING TECHNIQUE FOR SEMICONDUCTOR-BASED CHEMICAL SENSORS [P] . 欧洲知识产权局专利： EP1351762B1 . 2006-11-29

机译：基于半导体的化学传感器的红外热成像筛选技术