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植物须状根系构型检测分析系统

摘要

本发明提供了一种植物须状根系构型检测分析系统,包括:植物生长盆,轴向具有贯穿横截面的至少一个狭缝区域;至少一个激光测量单元,分别具有与狭缝区域相对应设置的激光发射器和接收器,使得激光发射器朝向接收器发出的激光光束贯穿植物生长盆的横截面;通过旋转载物台,以及激光测量单元以激光发射器为圆心在预定角度范围内水平摆动,从而实现对狭缝区域内的所有根系进行测量;数据分析单元,用于根据激光测量结果对待测植物的根系进行统计分析,本发明通过激光进行测量,并未接触植物根系,不会对植物根系造成破坏,而且能够实现对整个横截面内的根系进行测量,还可以根据上下多个狭缝区域的断层分析结果,重构伪三维根系构型。

著录项

  • 公开/公告号CN111288920B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海市农业生物基因中心;

    申请/专利号CN202010210117.8

  • 申请日2020-03-23

  • 分类号G01B11/24(20060101);A01G9/02(20180101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 201106 上海市闵行区北翟路2901号

  • 入库时间 2022-08-23 11:43:42

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