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一种适用于图像传感器的太阳黑子校正结构

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一种适用于图像传感器的太阳黑子校正结构，适宜集成在芯片中，其在已有的图像传感器读出电路基础上增加了一个位数较少的辅助计数器COUNTER_S，该辅助计数器单元COUNTER_S，其输入端接所述比较器单元COUNTER的输出端VCOMP，其输出端CTRL_BS接到主计数器单元COUNTER中；其中，辅助计数器单元COUNTER_S包括太阳黑子阈值产生单元、阈值比较单元和计数器；输出端CTRL_BS将计数结果输入到主计数器单元COUNTER中用以控制其最终数据输出是否为全满幅，从而达到消除太阳黑子现象的目的。本发明提出的太阳黑子校正结构节省功耗和面积，且检测精度更高。

著录项

公开/公告号CN109618114B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-05-18

原文格式PDF
申请/专利权人上海微阱电子科技有限公司;
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申请/专利号CN201811561481.8
发明设计人何学红;温建新;
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申请日2018-12-20
分类号H04N5/357(20110101);H04N5/374(20110101);H04N5/378(20110101);
代理机构31275 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人陶金龙;尹一凡
地址 201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区芳春路400号1幢3层
入库时间 2022-08-23 11:49:13

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