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一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法

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本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法，用白噪声亮度的理论值与经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度，由此将OLED DeMura中子像素点的亮度提取精度量化，将其应用于实际生产可提高DeMura设备修复Mura缺陷的精度，规避子像素亮度提取不准确导致后续Mura补偿不成功的问题；本发明提供的DeMura设备检测方法，用调制传递函数表征DeMura设备成像系统对输入信号的作用，反映DeMura设备的噪声水平，可用于检测DeMura设备是否处于正常运行状态，作为定量评估DeMura设备优劣的检测方法。

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公开/公告号CN110136212B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-05-25

原文格式PDF
申请/专利权人武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司;
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申请/专利号CN201910330272.0
发明设计人冯晓帆;刘璐宁;郑增强;张胜森;马尔威;吴红君;袁捷宇;刘荣华;
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申请日2019-04-23
分类号G06T7/90(20170101);G06T7/00(20170101);G06T5/00(20060101);G06K9/00(20060101);G01N21/95(20060101);G01N21/88(20060101);
代理机构42224 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙);
代理人赵伟
地址 430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
入库时间 2022-08-23 11:50:22

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1. 一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法 [P] . 中国专利： CN110136212B . 2021.05.25
2. 一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法 [P] . 中国专利： CN110136212A . 2019-08-16
3. Method for evaluating brightness measurement accuracy of Demura equipment [P] . US11081029B2 . 2021-08-03

机译：评估Demura设备亮度测量精度的方法
4. METHOD FOR EVALUATING BRIGHTNESS MEASUREMENT PRECISION OF DEMURA DEVICE [P] . 世界知识产权组织专利： WO2019237444A1 . 2019-12-19

机译： DEMURA设备亮度测量精度的评估方法
5. Brightness compensation method of mura area and design method of mura pixel dot brightness [P] . 美国专利： US9805667B2 . 2017-10-31

机译： mura区域的亮度补偿方法和mura像素点亮度的设计方法

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