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一种单步相移电子散斑干涉测量方法、系统、装置和存储介质

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摘要

本发明公开了一种单步相移电子散斑干涉测量方法、系统、装置和存储介质，所述的测量方法是在传统相移电子散斑干涉测量法的基础上增加插值计算这一概念，通过插值计算的方法，获得被测物体变形前所需的多幅相移图像和物体变形后所需的多幅相移图像，代替传统测量方法中逐个采集的物体变形前和物体变形后多个相移图像，消除在物体变形前后状态下对多幅相移图像的需要，从而解决现有相移电子散斑干涉测量法只能在静态或准静态测量中使用的问题，实现动态测量；并且，本发明专利不需要增加使用额外的光学器材或布置，只需利用传统相移电子散斑干涉测量装置，便能够实现动态测量。本发明可应用于光学测量技术领域。

著录项

  • 公开/公告号CN110823117B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广州大学;

    申请/专利号CN201911037596.1

  • 发明设计人 蔡长青;黄永辉;陈慧敏;

    申请日2019-10-29

  • 分类号G01B11/16(20060101);G01B9/02(20060101);

  • 代理机构44205 广州嘉权专利商标事务所有限公司;

  • 代理人黎扬鹏

  • 地址 510006 广东省广州市大学城外环西路230号

  • 入库时间 2022-08-23 11:52:40

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