首页> 中国专利> 一种基于表面阻抗边界的薄层电磁结构的时域分析方法

一种基于表面阻抗边界的薄层电磁结构的时域分析方法

摘要

本发明公开了一种基于表面阻抗边界的薄层电磁结构的时域分析方法。该方法包括以下步骤:运用等效传输线电路理论,建立薄层人工电磁结构单元的等效传输线电路模型;提取薄层人工电磁结构单元的等效表面阻抗,采用矢量拟合方法将宽频带的等效表面阻抗拟合成有理分式累加的形式;使用基于表面阻抗边界条件的时域有限差分法对结构进行全波仿真,仿真过程中用表面阻抗边界条件来代替薄层人工电磁结构单元;对全波仿真得到的电磁场进行后处理。本发明方法对于计算薄层人工电磁结构,显著减少了薄层结构纵向和横向的计算未知量,节省了运算时间和内存,具有比较高的灵活性和有效性。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号