公开/公告号CN109584206B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-07-06
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院自动化研究所;
申请/专利号CN201811221719.2
申请日2018-10-19
分类号G06T7/00(20170101);G06T7/136(20170101);G06T7/11(20170101);G06T7/62(20170101);
代理机构11576 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人郭文浩
地址 100190 北京市海淀区中关村东路95号
入库时间 2022-08-23 12:05:14
机译: 用于检测铁磁货物中瑕疵的磁检测探头
机译: 进行实时目视检查以检测连续运动中物体表面的瑕疵,并采取步骤在FormA Sequential中获取物体表面的图像
机译: 从污渍或瑕疵的照片分析中检测皮肤癌的系统。