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一种提高测试效率的ATE测试方法

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本发明公开了一种提高测试效率的ATE测试模式，本技术方案由2部分构成：数据处理用的电脑及数据传输使用的网络路由器；将ATE测试电脑及数据处理电脑，通过网线接到数据传输路由器上，构成局域网，并将数据处理电脑的某个硬盘，通过局域网共享给ATE测试电脑使用，该硬盘为备份硬盘；本发明提供的提高测试效率的ATE测试模式，该模式是将采集数据、数据分析和处理及返回测试Bin进行分开，ATE将所需数据采集完，就可空出ATE，用于其他的集成电路测试，这样可以提高ATE的测试效益；数据采集完，存档在另一台电脑中，也可避免因大数据处理中，ATE电脑死机时，造成数据丢失。

著录项

公开/公告号CN109884498B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-07-13

原文格式PDF
申请/专利权人上海华岭集成电路技术股份有限公司;
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申请/专利号CN201811607629.7
发明设计人薛来熙;吴勇佳;余琨;季海英;蔡漪文;王静;
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申请日2018-12-27
分类号G01R31/28(20060101);
代理机构31301 上海海贝律师事务所;
代理人范海燕
地址 201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路351号2号楼1楼
入库时间 2022-08-23 12:07:36

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