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一种用于传感器的温度应力无失效加速寿命试验方法

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本发明提供一种用于传感器的温度应力无失效加速寿命试验方法，涉及一种用于传感器的可靠性试验方法。本发明首先对传感器进行恒温应力加速寿命试验和温度高加速寿命试验；然后确定恒温应力加速寿命在正常应力水平下的等效寿命，求解出形状参数；进行失效机理一致性的检验，如果失效机理不一致，重新进行温度高加速寿命；给出传感器在正常温度应力水平下，给定可靠度，置信水平寿命置信下限的寿命评估模型；最后推算出传感器在正常的温度应力水平下的使用寿命年限。本发明解决了现有寿命试验技术在定时截尾试验中无失效数据情况下，无法有效进行传感器的寿命评价。本发明可用于传感器的寿命评价。

著录项

公开/公告号CN110260907B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-07-16

原文格式PDF
申请/专利权人中国电子科技集团公司第四十九研究所;
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申请/专利号CN201910626355.4
发明设计人李金平;张鹏;吴凌慧;吕颖;荆志彬;许志佳;浦龙;
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申请日2019-07-11
分类号G01D18/00(20060101);
代理机构23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所;
代理人时起磊
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区一曼街29号
入库时间 2022-08-23 12:08:35

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