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阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法

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本发明涉及阴影校正装置、电子设备和阴影校正方法。阴影校正装置具备：基准取得部，取得测色基准物的拍摄图像的基准像素值W；对象像素值取得部，取得测量对象的拍摄图像的像素值S；移位值取得部，取得基于基准像素值W的移位值k2；查找表，存储有对应Wk2的变量G₂(＝2^k1/Wk2)；以及算出部，从查找表中读出与基准像素值W及移位值k2对应的变量G₂，并根据下述式(1)计算测量对象的拍摄图像的各像素的阴影校正值R_dec：R_dec＝(F·G₂)＞＞(k1+k2)+B…(1)其中，F＝S·(A‑B)+{W＞＞1}A、B及k1是整数常数。

著录项

公开/公告号CN108124079B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-07-23

原文格式PDF
申请/专利权人精工爱普生株式会社;
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申请/专利号CN201711181163.4
发明设计人笠原秀明;
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申请日2017-11-23
分类号H04N5/217(20110101);H04N5/361(20110101);
代理机构11240 北京康信知识产权代理有限责任公司;
代理人张永明;玉昌峰
地址日本东京
入库时间 2022-08-23 12:11:27

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