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一种磁力计数据校准的方法及磁力计数据校准装置

摘要

本申请实施例公开了一种磁力计数据校准的方法,应用于具有折叠屏和磁力计的终端设备,该方法包括:获取折叠屏的弯折角度和磁力计的磁力计数据;确定折叠屏的弯折角度所处于的第一角度区间;根据第一角度区间从预设的软磁参数集合中确定目标软磁参数;根据目标软磁参数对磁力计数据进行校准,以得到第一校准数据。本申请实施例还提供相应的磁力计数据校准装置。本申请技术方案由于可以根据折叠屏不同的弯折角度确定对应的目标软磁参数来对磁力计数据进行校准,可以解决折叠屏弯折过程中软磁干扰变化带来的问题,提供了一种折叠屏终端设备在不同弯折状态下如何对磁力计数据进行校准的解决方案。

著录项

  • 公开/公告号CN110426057B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华为技术有限公司;

    申请/专利号CN201910569226.6

  • 发明设计人 韩萍;姚建江;谢偰伟;

    申请日2019-06-27

  • 分类号G01C25/00(20060101);G01C17/38(20060101);

  • 代理机构44285 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人骆苏华

  • 地址 518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼

  • 入库时间 2022-08-23 12:20:28

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