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相控阵天线阵元失效的诊断方法及系统

摘要

本发明提供了一种相控阵天线阵元失效的诊断方法及系统,包括:相位调制步骤:选择相控阵天线的多个阵元,对选择的多个阵元的移相器件进行周期性的相位调制;分析步骤:分析相控阵天线接收或者发射的信号中的谐波特征来诊断对应阵元的有效性。本发明同时可以诊断多个天线单元,诊断效率高;无需辅助诊断单元,硬件结构简单;仅需仅需频谱估计,可利用快速傅里叶变换等方法实现,算法复杂度低。因此,本发明尤其适用于大型有源相控阵天线的快速并行诊断。

著录项

  • 公开/公告号CN110470911B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海卫星工程研究所;

    申请/专利号CN201910749253.1

  • 申请日2019-08-14

  • 分类号G01R29/08(20060101);G01R29/10(20060101);

  • 代理机构31334 上海段和段律师事务所;

  • 代理人李佳俊;郭国中

  • 地址 200240 上海市闵行区华宁路251号

  • 入库时间 2022-08-23 12:35:36

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