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在散射光模式及荧光模式中测量液体纳米颗粒的浓度、尺寸及Z电位装置及方法

摘要

本发明涉及一种用于在散射光模式和荧光模式下测量液体中纳米颗粒的浓度、尺寸和Z电位的装置和方法,包括以下特征:a)样品(28)从上方被激光光束通过分光器(14)和可调焦点液体透镜(9)而照射,且光的反射光束通过相同的分光器(14)和另一液体透镜(8)而被偏转至检测器(5)并被分析;b)为了观察荧光的目的,荧光滤光片(19)被连接至所述液体透镜(8)和所述检测器(5)之间的会聚光束路径中,用来增加散射光平面(31)和荧光平面(30)之间的距离;以及c)为了控制所述测量过程,使用颗粒跟踪程序、光学控制器(15)和具有触控屏幕的显示器(2)。

著录项

  • 公开/公告号CN109923396B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 梅特里克斯微粒有限公司;

    申请/专利号CN201780068800.9

  • 发明设计人 哈诺·法其尼格;玛格丽特·布克;

    申请日2017-11-03

  • 分类号G01N15/02(20060101);G01N21/64(20060101);

  • 代理机构11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人宋融冰

  • 地址 德国梅尔布施

  • 入库时间 2022-08-23 12:47:43

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