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用于评估光学系统的屈光性能的光学方法

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本发明公开了一种用于评估光学系统的屈光性能的光学方法，公开的实施例包括用于提供低成本装置的一种装置、系统和方法，所述低成本装置通过附接到一台智能手机上可以非常精确地测量屈光不正。一公开的装置可以使用环境光或光源，来模拟验光师通过利用逆夏克‑哈特曼(Shack‑Hartman)技术所使用的交叉柱镜程序。所述光学装置可以包括小透镜阵列和针孔，这些将促使使用者在不同深度有效聚焦。使用一个光学装置，并结合一台智能手机，使用者首先改变轴的角度，直到他/她看到一个交叉图案(垂直和水平线等间隔)。使用者通常可使用智能手机上的控制器来调节显示器，使得线汇合并重叠，这相应地使视图带入清晰焦点，从而为使用者提供适当的光学处方。

著录项

公开/公告号CN107951465B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-11-23

原文格式PDF
申请/专利权人爱奎有限公司;
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申请/专利号CN201710339687.5
发明设计人乔治斯·司高连诺斯;
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申请日2017-05-15
分类号A61B3/103(20060101);
代理机构11435 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人胡少青;许媛媛
地址美国加利福尼亚州纽瓦克市尤里卡大道39608号
入库时间 2022-08-23 12:51:22

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