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低概率条件下大气中子单粒子效应截面测量方法

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为解决低概率条件下，传统的测量系统辐照试验耗时较长的技术问题，本发明提供了一种低概率条件下大气中子单粒子效应截面测量系统和方法。其中，测量系统包括辐照板、测试板和计算机；辐照板有m个，m≥1；第i个辐照板上集成有ni个用于插装待测SRAM存储条的插座，i＝1,2,…,m，ni≥1；测试板与m个辐照板相连接，用于监测m个辐照板上每个SRAM存储条的工作状态，并将监测得到的单粒子效应数据发送至计算机上；所述单粒子效应数据包括单粒子翻转数和单粒子闩锁数；计算机与测试板相连，用于获取并处理测试板发送的测试数据，得到待测SRAM存储条上的被测SRAM存储器在大气中子环境中的单粒子效应截面。

著录项

公开/公告号CN109991531B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-12-24

原文格式PDF
申请/专利权人西北核技术研究所;
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申请/专利号CN201910243513.8
发明设计人王勋;郭晓强;张凤祁;陈伟;丁李利;罗尹虹;
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申请日2019-03-28
分类号G01R31/302(20060101);
代理机构61211 西安智邦专利商标代理有限公司;
代理人王少文
地址 710024 陕西省西安市灞桥区平峪路28号
入库时间 2022-08-23 12:59:46

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