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一种可避免污垢杂质影响测量精确度的超声波测厚仪

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本发明涉及测厚仪技术领域，且公开了一种可避免污垢杂质影响测量精确度的超声波测厚仪，包括测厚仪本体，所述测厚仪本体顶端两侧均固定安装有活动座，所述活动座的另一端活动安装有安装板，所述安装板的底端固定安装有定位板，所述定位板的两端均固定安装有刮板。该可避免污垢杂质影响测量精确度的超声波测厚仪，在使用时，先通过定位板与需要测量面进行接触定位，而后通过刮板对表面的污垢杂质进行刮除，由于测厚仪本体通过活动柱与活动座活动连接，将测厚仪本体旋转至正对测量面处，而后将螺纹柱进行旋转使得安装座旋转至安装座处的限制柱与限制孔对应时，具备测量精度好等优点，解决了现有的容易出现误差的问题。

著录项

公开/公告号CN111397553B

专利类型发明专利
公开/公告日2022-01-14

原文格式PDF
申请/专利权人肖月;朱兴平;
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申请/专利号CN202010271767.3
发明设计人肖月;朱兴平;雷昌贵;
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申请日2020-04-08
分类号G01B17/02(20060101);
代理机构44525 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司;
代理人赵爱婷
地址 518000 广东省深圳市宝安区沙井街道沙三社区帝堂路76号101
入库时间 2022-08-23 13:00:50

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