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自动生成交叉覆盖点中的忽略仓的方法、装置、设备

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摘要

本公开提供了一种自动生成交叉覆盖点中的忽略仓的方法、装置、设备、存储介质。自动生成交叉覆盖点中的忽略仓的方法，包括：定义步骤，分析覆盖点中的所有仓，并定义对于功能覆盖率统计有意义的交叉仓；交叉覆盖点建立步骤，针对需要组合的覆盖点建立含有所述有意义的交叉仓的交叉覆盖点；信息生成步骤，分析所述交叉覆盖点中的所述有意义的交叉仓，结合所述有意义的交叉仓来自动生成剩余的交叉仓信息；忽略仓生成步骤，基于所述剩余的交叉仓信息来生成忽略仓。本公开可以实现节省验证人员大量的功能覆盖率开发时间，提高了功能覆盖率的开发效率，并且避免了因为人为建立大量的忽略仓而可能导致的错误。

著录项

  • 公开/公告号CN112560390B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.09.06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 海光信息技术股份有限公司;

    申请/专利号CN202011556329.8

  • 发明设计人 杨晶晶;

    申请日2020.12.23

  • 分类号G06F30/3953;G06F115/10;

  • 代理机构北京天达共和知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人薛仑

  • 地址 300450 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8

  • 入库时间 2022-09-26 23:19:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-06

    授权

    发明专利权授予

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