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基于光纤和纳米操纵器的纳米材料光学表征方法及其系统

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摘要

本发明公开了一种基于光纤和纳米操纵器的纳米材料光学表征方法及其系统，属于纳米材料光学表征和纳光电子器件测试领域。本发明的方法为通过光纤探头和纳米操纵器结合实现将纳米材料的发光从发光局域导入光分析仪器，或者将光源发光导入纳米材料局域的方法，本发明的系统包括显微镜、光分析仪和/或光源、纳米操纵器、光纤探头、样品台和/或探针；本发明的方法具有角度分辨能力；该系统对选定的微区进行光激励或光分析，占用空间小、具有较大的灵活性；同时该系统可以与多种显微、表征手段结合形成纳米材料和器件的综合测试平台。

著录项

公开/公告号CN101299024B

专利类型发明专利
公开/公告日2010-09-08

原文格式PDF
申请/专利权人北京大学;
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申请/专利号CN200810106087.5
发明设计人高旻;彭练矛;陈清;李成垚;丁晨;张立欢;赖嘉霖;
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申请日2008-05-08
分类号
代理机构北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人余长江
地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号
入库时间 2022-08-23 09:04:57

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2014-07-02

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/63 授权公告日:20100908 终止日期:20130508 申请日:20080508

专利权的终止
2010-09-08

授权

授权
2008-12-31

实质审查的生效

实质审查的生效
2008-11-05

公开

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