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光重构型门阵列的写入状态检查方法与写入状态检查装置以及光重构型门阵列

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提供不需要ORGA的逻辑电路内部的写入状态检查专用电路的写入状态检查技术。将ORGA内的逻辑电路结构照射到检查对象光重构位元件上的光信号从ON转换到了OFF时，作为至少一个逻辑电平或输出阻抗构变化的逻辑结构上构成的光信号图案，将照射到检查对象光重构位元件上的光信号为ON或OFF的第一、第二光信号图案对逻辑电路依次照射而输入。与此同时，通过连接在各个逻辑输出端子上的、检测该输出端子的逻辑电平是H电平、L电平或高阻抗中的哪一种状态的输出状态检测电路，检测各个输出状态。通过将所检测出的状态与所输入的光信号图案的正常的输出状态进行比较，对各光重构位元件判断由光信号产生的信息写入状态是否合格。

著录项

公开/公告号CN101015123B

专利类型发明专利
公开/公告日2010-08-25

原文格式PDF
申请/专利权人独立行政法人科学技术振兴机构;国立大学法人九州工业大学;
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申请/专利号CN200580027484.8
发明设计人渡边实;小林史典;
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申请日2005-06-16
分类号
代理机构中国专利代理(香港)有限公司;
代理人曾祥夌
地址日本埼玉县
入库时间 2022-08-23 09:04:59

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-05-31

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H03K 19/173 授权公告日:20100825 终止日期:20180616 申请日:20050616

专利权的终止
2010-08-25

授权

授权
2010-08-25

授权

授权
2007-10-03

实质审查的生效

实质审查的生效
2007-10-03

实质审查的生效

实质审查的生效
2007-08-08

公开

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2007-08-08

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