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用于产品密度测量的微波测量装置

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本发明涉及一种用于通过微波测量产品密度的测量装置。该测量装置包括一个第一微波谐振器(1)，在操作中，微波从其中进入生产区域(12)，还涉及一种用于对影响第一微波谐振器(1)测量信号的环境影响和扰动变量进行补偿的装置。根据本发明，补偿装置包含一个第二微波谐振器(2)，它朝向与微波辐射有关的生产区域(12)被屏蔽。

著录项

公开/公告号CN1542437B

专利类型发明专利
公开/公告日2010-11-10

原文格式PDF
申请/专利权人特鲁菲舍尔股份有限公司及两合公司;
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申请/专利号CN200410031287.0
发明设计人斯蒂芬·彼得斯;瑞恩哈德·克内歇尔;沃尔夫冈·托特;克拉斯·德舍尔;
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申请日2004-03-26
分类号
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;
代理人李勇
地址德国门兴格拉德巴赫
入库时间 2022-08-23 09:05:27

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2016-05-11

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 22/00 授权公告日:20101110 终止日期:20150326 申请日:20040326

专利权的终止
2010-11-10

授权

授权
2006-04-05

实质审查的生效

实质审查的生效
2004-11-03

公开

公开

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中文文献
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1. 用于产品密度测量的微波测量装置 [P] . 中国专利： CN1542437B . 2010.11.10
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