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测试包含秘密信息的集成电路的方法

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一种集成电路(10)，包括功能电路(12a-c)，该功能电路包含必须保密防止未授权访问的信息。该集成电路包括耦合至功能电路(12a-c)的测试访问电路(14，16)，和耦合至测试访问电路(14，16)的多个熔丝元件(18)。熔丝元件(18)按如下电路结构连接：该电路结构使得仅仅当所述多个熔丝元件中的第一熔丝元件(18)处于熔断状态并且第二熔丝元件(18)处于未熔断状态时，才使功能电路(12a-c)可经由测试访问电路(14，16)稳定访问。结果，在选择性地熔断所有第一熔丝元件(18)之后，可以测试集成电路。在测试之后，至少一部分第二熔丝元件(18)熔断。结果，对于不知道哪些熔丝元件是第一熔丝元件和哪些是第二熔丝元件的人，将集成电路恢复到其中可以进行对保密信息的访问的危险的测试访问的状态存在着困难。

著录项

公开/公告号CN101238382B

专利类型发明专利
公开/公告日2012-03-28

原文格式PDF
申请/专利权人 NXP股份有限公司;
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申请/专利号CN200680029234.2
发明设计人埃里克·J·马里尼森;桑迪普库马尔·戈埃尔;安德烈·K·纽兰;休伯特斯·G·H·韦尔默朗;亨得里克斯·P·E·瓦兰肯;
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申请日2006-08-09
分类号
代理机构中科专利商标代理有限责任公司;
代理人王波波
地址荷兰艾恩德霍芬
入库时间 2022-08-23 09:09:21

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2012-03-28

授权

授权
2008-10-01

实质审查的生效

实质审查的生效
2008-08-06

公开

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