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粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定方法

机译:粒度分布测定装置及粒度分布测定方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a particle size distribution measurement device which can obtain highly-reliable particle size distribution data by irradiating a specimen with light different in wavelength, and a particle size distribution measurement method.;SOLUTION: A light intensity distribution data creation part 511 creates light intensity distribution data by adding at least a part of the detection intensity of plurality of light receiving elements corresponding to wavelengths of light emitted from a plurality of light sources to the data. A particle size distribution data creation part 512 creates particle size distribution data by performing a calculation using a coefficient matrix to the light intensity distribution data which is created by the light intensity distribution data creation part 511. The coefficient matrix is constituted by coupling optical models corresponding to the wavelengths of the light emitted from a plurality of the light sources, and at least a part of a plurality of coefficients contained in the optical models corresponding to the wavelengths is composed of the added matrix.;SELECTED DRAWING: Figure 2;COPYRIGHT: (C)2019,JPO&INPIT
机译:要解决的问题:提供一种粒径分布测量装置,该装置可以通过用波长不同的光照射样本来获得高度可靠的粒径分布数据,以及一种粒径分布测量方法。部分511通过将与从多个光源发射的光的波长相对应的多个光接收元件的检测强度的至少一部分与数据相加来创建光强度分布数据。粒度分布数据创建部件512通过对由光强度分布数据创建部件511创建的光强度分布数据执行系数矩阵计算来创建粒度分布数据。系数矩阵通过耦合对应的光学模型而构成从多个光源发出的光的波长,并且光学模型中包含的与该波长相对应的多个系数中的至少一部分是由相加的矩阵组成的;图2版权: (C)2019,日本特许厅&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2019035713A

    专利类型

  • 公开/公告日2019-03-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SHIMADZU CORP;

    申请/专利号JP20170158631

  • 发明设计人 十時 慎一郎;

    申请日2017-08-21

  • 分类号G01N21/47;G01N15/02;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 12:20:14

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