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SPECTRUM ANALYSIS APPARATUS, FINE PARTICLE MEASUREMENT APPARATUS, AND METHOD AND PROGRAM FOR SPECTRUM ANALYSIS OR SPECTRUM CHART DISPLAY

机译:光谱分析装置,精细颗粒测量装置以及用于光谱分析或光谱图显示的方法和程序

摘要

Provided is a spectrum analysis apparatus including a processing unit configured to generate analysis data using an analysis function in which a linear function and a logarithmic function are included as function elements and an intensity value is set as a variable from measurement data including the intensity value of light acquired by detecting the light from a measurement target object using a plurality of light-receiving elements having different detection wavelength bands.
机译:提供一种频谱分析装置,其包括处理单元,该处理单元被配置为使用分析函数来生成分析数据,其中包括线性函数和对数函数作为函数元素,并且将强度值设置为来自包括通过使用具有不同检测波长带的多个光接收元件检测来自测量目标物体的光而获得的光。

著录项

  • 公开/公告号EP3454046A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-03-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SONY CORPORATION;

    申请/专利号EP20180188674

  • 发明设计人 NITTA NAO;

    申请日2012-09-12

  • 分类号G01N21/64;G01N15/14;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 12:28:27

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