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SPECTRUM ANALYSIS APPARATUS, FINE PARTICLE MEASUREMENT APPARATUS, AND METHOD AND PROGRAM FOR SPECTRUM ANALYSIS OR SPECTRUM CHART DISPLAY

机译:频谱分析装置,细颗粒测量装置,以及用于频谱分析或频谱图表的方法和程序

摘要

Provided is a spectrum analysis apparatus including a processing unit configured to generate analysis data using an analysis function in which a linear function and a logarithmic function are included as function elements and an intensity value is set as a variable from measurement data including the intensity value of light acquired by detecting the light from a measurement target object using a plurality of light-receiving elements having different detection wavelength bands.
机译:提供一种频谱分析装置,包括处理单元,该处理单元被配置为使用分析函数生成分析数据,其中包括线性函数和对数功能作为功能元素,并且强度值被设置为来自包括强度值的测量数据的变量通过使用具有不同检测波长带的多个光接收元件来检测来自测量目标对象的光而获取的光。

著录项

  • 公开/公告号US2021080375A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-03-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SONY CORPORATION;

    申请/专利号US202016996263

  • 发明设计人 NAO NITTA;

    申请日2020-08-18

  • 分类号G01N15/14;G01J3/02;G01J3/28;G01N21/25;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 17:46:47

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