首页> 外国专利> Methods for calculating an optimal offset distance for surface position measurements, for calculating a maximum velocity for positioning motion, and for selecting a measurement strategy for coordinate positioning apparatus, computer program, and coordinate positioning apparatus.

Methods for calculating an optimal offset distance for surface position measurements, for calculating a maximum velocity for positioning motion, and for selecting a measurement strategy for coordinate positioning apparatus, computer program, and coordinate positioning apparatus.

机译:用于计算表面位置测量的最佳偏移距离,计算定位运动的最大速度以及为坐标定位设备,计算机程序和坐标定位设备选择测量策略的方法。

摘要

A method is described for calculating an optimum stand-off distance for surface position measurements to be acquired by a coordinate positioning apparatus including a measurement probe. The coordinate positioning apparatus may include a machine tool and the measurement probe may include a touch trigger probe having a deflectable stylus. The method includes the step of calculating an optimum stand-off distance using at least one measured acceleration characteristic of the coordinate positioning apparatus. In this manner, measurement cycle times may be optimised.
机译:描述了一种方法,该方法用于计算由包括测量探头的坐标定位设备获取的表面位置测量的最佳支座距离。坐标定位设备可以包括机床,并且测量探针可以包括具有可偏转的触针的触摸触发探针。该方法包括以下步骤:使用坐标定位设备的至少一个测得的加速度特性来计算最佳支座距离。以这种方式,可以优化测量周期时间。

著录项

  • 公开/公告号BRPI1007058A2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-02-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RENISHAW PLC;

    申请/专利号BR2010PI07058

  • 申请日2010-01-12

  • 分类号G01B21/04;G05B19/401;

  • 国家 BR

  • 入库时间 2022-08-21 14:26:44

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号