首页> 外国专利> Dynamic static random access memory (SRAM) array characterization using an isolated bit-line

Dynamic static random access memory (SRAM) array characterization using an isolated bit-line

机译:使用隔离位线的动态静态随机存取存储器(SRAM)阵列表征

摘要

A sensor circuit is used to provide bit-cell read strength distribution of an SRAM array. A current-mirror circuit mirroring the bit-line current of an SRAM array is used to power the sensor circuit. A reference current representing nominal bit-cell read current is used as a reference. The current-mirror circuit senses the bit-line current. The current-mirror and the ring oscillator are not part of the bit-line read path.
机译:传感器电路用于提供SRAM阵列的位单元读取强度分布。镜像SRAM阵列的位线电流的电流镜电路用于为传感器电路供电。代表标称位单元读取电流的参考电流用作参考。电流镜电路感测位线电流。电流镜和环形振荡器不是位线读取路径的一部分。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号