首页> 外国专利> SIMS ANALYSIS METHOD AND SIMS ANALYSIS DEVICE

SIMS ANALYSIS METHOD AND SIMS ANALYSIS DEVICE

机译:SIMS分析方法及SIMS分析装置

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a SIMS analysis method capable of preventing contamination of a solid sample as a measuring object, stably fixing the solid sample, and exhibiting sufficient contrast, and provide a SIMS analysis device for analyzing a solid sample by the SIMS analysis method.;SOLUTION: In the method of analyzing a solid sample by SIMS, as a fixing member for fixing the solid sample, a fixing member including, on its surface, a fibrous columnar structure having a plurality of fibrous columns of a length of 200 μm or more is used. The SIMS analysis device analyzes a solid sample by SIMS, and includes a fixing member for fixing the solid sample. The fixing member includes, on its surface, a fibrous columnar structure having a plurality of fibrous columns of a length of 200 μm or more.;COPYRIGHT: (C)2016,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种SIMS分析方法,其能够防止作为测量对象的固体样品的污染,稳定地固定固体样品并显示出足够的对比度,并且提供一种用于通过SIMS分析来分析固体样品的SIMS分析装置。解决方案:在通过SIMS分析固体样品的方法中,作为用于固定固体样品的固定构件,该固定构件在其表面上包括纤维柱状结构,该纤维状柱状结构具有多个长度为200的纤维柱。使用μm以上。 SIMS分析装置通过SIMS分析固体样品,并且包括用于固定固体样品的固定构件。固定构件在其表面上包括纤维状柱状结构,该纤维状柱状结构具有多个长度为200μm以上的纤维状柱。版权所有:(C)2016,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2015184084A

    专利类型

  • 公开/公告日2015-10-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NITTO DENKO CORP;

    申请/专利号JP20140059490

  • 发明设计人 MAENO YOHEI;

    申请日2014-03-24

  • 分类号G01N27/62;H01J49/04;C01B31/02;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 15:35:26

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号