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chipkartenschaltung with supervised access to the test mode

机译:在受监管的情况下访问测试模式

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号AT293796T

    专利类型

  • 公开/公告日2005-05-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号AT20000100952T

  • 发明设计人 WALLSTAB STEFAN;

    申请日2000-01-18

  • 分类号G01R31/317;G06K19/073;

  • 国家 AT

  • 入库时间 2022-08-21 22:15:24

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