首页> 外国专利> Method of patterning a magnetic memory cell bottom electrode before magnetic stack deposition

Method of patterning a magnetic memory cell bottom electrode before magnetic stack deposition

机译:在磁性叠层沉积之前构图磁性存储单元底部电极的方法

摘要

A method of patterning a bottom electrode for a magnetic memory cell. The bottom electrode is patterned prior to the deposition of the soft layer of the magnetic tunnel junction (MTJ) material stack, preventing the formation of fencing on the sidewalls of the soft layer, which can cause shorts to subsequently formed conductive lines of the magnetic memory device. A sacrificial mask is used to pattern the bottom electrode material, and at least a portion of the sacrificial mask is consumed or removed during the patterning of the bottom electrode material. The soft layer is then deposited and patterned using a hard mask.
机译:一种图案化用于磁存储单元的底部电极的方法。在沉积磁性隧道结(MTJ)材料叠层的软层之前先对底部电极进行构图,以防止在软层的侧壁上形成栅栏,这会导致随后形成的磁存储器导线短路设备。牺牲掩模用于图案化底部电极材料,并且在底部电极材料的图案化期间消耗或去除牺牲掩模的至少一部分。然后,使用硬掩模沉积并构图软层。

著录项

  • 公开/公告号US6849465B2

    专利类型

  • 公开/公告日2005-02-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHANRO PARK;GILL YONG LEE;

    申请/专利号US20030600920

  • 发明设计人 CHANRO PARK;GILL YONG LEE;

    申请日2003-06-20

  • 分类号H01L2100;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 22:19:34

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号