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Three-dimensional surface structure inspection device e.g. for surface mount technology (SMT) circuit board solder application

机译:三维表面结构检查装置,例如用于表面贴装技术(SMT)电路板焊接应用

摘要

An inspection device examines three-dimensional surface structures of mainly flat test items (3) by means of a camera (8). An optical sensor (7) is provided for carrying out three-dimensional detection of at least a part-zone of the test item surface, with the sensor (7) and the camera (8) combined in a sensor unit (6). A calibration mark (16) is fixed on the inspection device independent of the test-item (3) and enables the position of the camera (8) and the optical sensor (7) to be determined after photographing an object or after measuring the calibration mark (16).
机译:检查设备通过照相机(8)检查主要是平坦的测试项目(3)的三维表面结构。设置有光学传感器(7),用于对检测物表面的至少一部分区域进行三维检测,其中传感器(7)和照相机(8)组合在传感器单元(6)中。校准标记(16)固定在检查设备上,与测试项目(3)无关,可以在拍摄物体或测量校准后确定相机(8)和光学传感器(7)的位置标记(16)。

著录项

  • 公开/公告号DE19915052A1

    专利类型

  • 公开/公告日2000-10-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AG;

    申请/专利号DE1999115052

  • 发明设计人 BELLM HUBERT;LISTL LUDWIG;

    申请日1999-04-01

  • 分类号G01B11/00;G06K9/62;H05K13/08;G01J1/04;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 01:42:13

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