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机译:热释光剂量仪校准装置的测试装置
公开/公告号HU180961B
专利类型
公开/公告日1983-05-30
原文格式PDF
申请/专利权人 MTA KOEZPONTI FIZIKAI KUTATO INTEZETEHU;
申请/专利号HU1979MA03258
发明设计人 ROEVIDMARTONHU;DEMESANDORHU;
申请日1979-12-22
分类号G01T1/115;
国家 HU
入库时间 2022-08-22 11:09:31
机译: 半导体测试仪器的校准装置校准方法及半导体测试仪器
机译: 半导体测试装置的校准装置,校准方法及半导体测试装置
机译: 预测材料感兴趣属性的值的方法,分析材料的系统,生成和更新模型校准的方法。要定义至少一个可接受数据区域,要定义使用一组验证和培训集;从培训集审查校准模型和校准模型的开发;评估仪器和仪器组件作为数据采集设备的可接受性,并提供测试服务,产品程序,程序产品。 ,设备