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High Performance Interference Patterning Device Using Higher Harmonic Wave Source

机译:高性能干扰图案化装置使用高谐波源

摘要

The present invention relates to a high-performance interference patterning apparatus using a high-order harmonic light source, comprising: a light source means, and a grating pair arranged to form an interference image by diffracting light irradiated from the light source means. And, the interference image obtained by interfering the diffracted light from the grating pair is incident on the resist-coated sample surface to generate an interference pattern.
机译:本发明涉及一种使用高阶谐波光源的高性能干扰图案化装置,包括:光源装置,以及光栅对,并且通过从光源装置衍射光的光而被布置成形成干涉图像。并且,通过干扰来自光栅对的衍射光而获得的干涉图像入射在抗蚀剂涂覆的样品表面上以产生干涉图案。

著录项

  • 公开/公告号KR20210029437A

    专利类型

  • 公开/公告日2021-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 주식회사 이솔;

    申请/专利号KR1020190110659

  • 发明设计人 이동근;

    申请日2019-09-06

  • 分类号G03F7/20;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-24 17:43:53

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